Системы измерения свойств в зависимости от температуры : Система поверхностного микрокартирования коэффициента Зеебека и теплопроводности методом сканирующего термозонда STPM-1000

Оценка и анализ распределения характеристик материалов вдоль плоскости Система STPM-100 одновременно измеряет двумерное распределение коэффициента Зеебека и теплопровод- ность вдоль плоскости термоэлектрического модуля. Может выполнять картирование образца с шагом 20 мкм.

Эта система была разработана на основе совместного патента # 5252543 с национальным институтом передовых промышленная наука и техника (АИСТ)

Конструктивные особенности
• Измерение одной точки распределения всего за 10 секунд
• Доступно для выполнения картографического анализа с шагом 20 мкм.
• Повышение точности измерения теплопроводности путем калибровки с помощью стандартного образеца

Области применения
• Оценка распределения свойств в термоэлектрических материалах
• Разработка новых материалов и оценка однородности свойств термоэлектрических материалов
• Оценка однородности свойств неорганических материалов, полимерных материалов и кристаллических материалов
• Оценка теплопроводности материалов монтажных плат (печатных плат, многослойных печатных плат и т.д.)

Технические характеристики