Системы измерения свойств в зависимости от температуры : Система измерения теплопроводности наноразмерных пленок 2- омега методом TCN-2

Оценка теплопроводности для наноразмерной тонкой пленки в нормальном направлении

TCN-2ω - единственная в мире система, которая может измерять теплопроводность наноразмерной тонкой пленки в нормальном направлении.

Конструктивные особенности
• Доступен для измерения теплопроводности тонкой пленки (толщиной 20 ÷ 1000 нм), нанесенной на подложку (патент №. 5426115)
• Реализует измерение регистрируемых изменений температуры методом термоотражения
• Простая предварительная обработка образца

Области применения
• Лучше всего подходит для оценки теплопроводности тонкой пленки, необходимой для тепловых расчетов. Диэлектрические пленки с низким значением K, органические тонкие пленки, тонкие пленки из термоэлектрических материалов
• Разработка на диэлектрической пленке и улучшение ее теплоотвода
• Оценка применения термоэлектрических тонких пленок

Технические характеристики